우수-기수 모드 해석을 통한 표면 실장 소자의 기생 성분 계산 방법

Abstract

본 단편 논문에서는 인쇄 회로 기판(PCB)에서 많이 사용하는 표면 실장 소자(SMD)의 기생 성분을 우수-기수 모드해석(even-odd analysis)을 통해 계산하는 방법을 소개한다. 고주파 회로를 인쇄 회로 기판과 표면 실장 소자를 이용해서설계하면, SPICE 모델을 이용한 시뮬레이션 결과와 측정 결과가 다르다. 결과가 다른 원인은 인쇄 회로 기판과 표면실장 소자 사이의 기생 성분이 고주파에서 큰 영향을 주기 때문이다. 일반적으로 이런 기생 성분을 파악하기 위해 지루한 시뮬레이션 튜닝 과정을 거친다. 이 단편 논문에선 간단한 우수-기수 모드 해석을 이용하여 기생 성분을 계산했으며, 3.7 GHz 대역에서 유효함을 보였다.